一、報(bào)告題目：

      In-situ electron microscopy for probing structure and property dynamics in materials

       (原位電子顯微術(shù)應(yīng)用于材料結(jié)構(gòu)與動(dòng)態(tài)性能分析)   

二、報(bào)告人：

         Prof. Chaoying Ni（倪超英）, 美國特拉華大學(xué)(University of Delaware)

三、報(bào)告時(shí)間：3.26（周一）上午10：00點(diǎn)

四、報(bào)告地點(diǎn)：東區(qū)研究生樓國教院516報(bào)告廳

倪超英教授簡介：

        1997年獲美國特拉華大學(xué)材料科學(xué)博士，物理系博士后，1997-2001歷任巴塔公司(Batta Labs)、羅德爾公司(Rodel, 現(xiàn)Dow Chemical) 實(shí)驗(yàn)室主管及研究科學(xué)家等職。2001年回到特拉華大學(xué)，現(xiàn)為美國特拉華大學(xué)材料科學(xué)與工程系終身教授，W. M. Keck先進(jìn)顯微技術(shù)及分析中心主任，同時(shí)也是常州大學(xué)兼職教授。主要研究領(lǐng)域: 現(xiàn)代電子顯微技術(shù)在材料與化學(xué)科學(xué)中的應(yīng)用、納米催化材料、先進(jìn)復(fù)合材料、太陽能及熱電轉(zhuǎn)換等。